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10
2014-2
測(cè)量條件參考：元件規(guī)格測(cè)量頻率測(cè)量方式備注電容100KHz并聯(lián)電容≥1μF(非電解電容)100Hz并聯(lián)電容≥1μF（電解電容）100Hz串聯(lián)另加直流偏置，比如1V電感＜100nH100KHz串聯(lián)視情況加直流偏置電感≥1H...
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10
2014-2
LCR電橋的功能與正確使用方法：如何正確地測(cè)量電子零部件的參數(shù)?電阻、電容、電感是電子線路中必定使用的零部件。在進(jìn)行電子線路的設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)上，準(zhǔn)確地測(cè)量這些零部件的值是極其重要的。測(cè)量這些零部件的值，一般使用LCR測(cè)試儀。...
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17
2014-1
亦稱背景噪聲。一般指電聲系統(tǒng)中除有用信號(hào)以外的總噪聲:包括音響設(shè)備噪聲和放音環(huán)境噪聲兩部分。比如電視聲中除節(jié)目聲音外的“沙沙”聲等。過強(qiáng)的本底噪聲，不僅會(huì)使人煩躁，還淹沒聲音中較弱的細(xì)節(jié)部分，使聲音的信噪比和動(dòng)態(tài)范圍減小...
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16
2014-1
負(fù)載調(diào)整率電源負(fù)載的變化會(huì)引起電源輸出的變化,負(fù)載增加,輸出降低,相反負(fù)載減少,輸出升高。好的電源負(fù)載變化引起的輸出變化減到zui低,通常指標(biāo)為3%~5%。負(fù)載調(diào)整率是衡量電源好壞的指標(biāo).好的電源輸出接負(fù)載時(shí)電壓降小
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14
2014-1
首先，兩者zui主要的區(qū)別是波形存儲(chǔ)占據(jù)的存儲(chǔ)空間要比設(shè)置存儲(chǔ)空間要大的多，因此以存儲(chǔ)器的空間和成本考慮，就需要將兩者分別保持。其次，兩者的調(diào)出上也存在區(qū)別。波形調(diào)出示波器處于STOP狀態(tài)，設(shè)置調(diào)出時(shí)不改變保存的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)...
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14
2014-1
絕大多數(shù)電感帶有鐵芯磁芯，而帶有鐵芯磁芯的電感對(duì)其施加的磁場(chǎng)非常敏感，磁場(chǎng)與測(cè)試信號(hào)電流成正比，因此相同電平若內(nèi)阻不同，電流就會(huì)不一樣，則結(jié)果有很大區(qū)別。這是客戶電感測(cè)試時(shí)遇到的普遍問題。判定儀器測(cè)試電感的一致性原則應(yīng)該...
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14
2014-1
由于儀器本身的漂移，會(huì)疊加一些雜散成分，如接觸電阻、電感、并聯(lián)電容等，則不清零就會(huì)有誤差。短路清零對(duì)小阻抗器件有效，開路清零對(duì)高阻抗器件更有效。
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14
2014-1
對(duì)于不同結(jié)構(gòu)的電子產(chǎn)品，接觸電流的量測(cè)也是有不同的要求，但總括來說接觸電流可分為對(duì)地接觸電流GroundLeakageCurrent、表面對(duì)地接觸電流SurfacetoLineLeakageCurrent以及表面間接觸電...
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14
2014-1
耐壓測(cè)試是偵測(cè)流過被測(cè)物絕緣系統(tǒng)之漏電流，以一高于工作電壓之電壓施加于絕緣系統(tǒng)；而電源泄漏電流（接觸電流）則是在被測(cè)物正常操作下，以一zui不利的條件（電壓、頻率）對(duì)被測(cè)物量測(cè)漏電流。簡(jiǎn)單地說，耐壓測(cè)試之漏電流為無工作電...
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14
2014-1
決定耐壓測(cè)試的測(cè)試電壓取決于您產(chǎn)品所要投入的市場(chǎng)，你必須遵守該國(guó)進(jìn)口管制條例組成部分的安全標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)定。安全標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了耐壓測(cè)試的測(cè)試電壓和測(cè)試時(shí)間。的狀況是請(qǐng)你的客戶給您相關(guān)測(cè)試要求。一般耐壓測(cè)試的測(cè)試電壓如下：工作電壓...
